Сборники трудов ИСП РАН


Генерация тестовых программ для подсистемы управления памятью микропроцессора.

Д.Н. Воробьев, А.С. Камкин.

Аннотация

В работе рассматривается методика генерации тестовых программ, предназначенных для функционального тестирования подсистемы управления памятью микропроцессора. Предлагаемый подход основан на формальной спецификации инструкций, работающих с памятью, и устройств подсистемы, включая буфер трансляции адресов и кэш-память. Использование формальных описаний позволяет автоматизировать разработку генератора тестовых программ, и, что не менее важно, систематизировать тестирование за счет четкого определения целей тестирования. Для генерации тестовых программ в предлагаемом подходе используются комбинаторные техники — тестовые воздействия на микропроцессор представляются в виде цепочек инструкций небольшой длины, составленных из различных сочетаний тестовых ситуаций.

Издание

Труды Института системного программирования РАН, том 17, 2009, стр. 119-132.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома