Сборники трудов ИСП РАН


Метод зеркальной генерации ограничений для построения тестовых программ по тестовым шаблонам.

Е.В. Корныхин.

Аннотация

Статья относится к области системного функционального (core-level) тестирования микропроцессоров, более точно модулей управления памяти. В статье описывается метод построения тестов (тестовой программы) для нацеленной генерации. Такая генерация предполагает систематичное построение тестов специального вида. В конце приводятся результаты апробации реализации метода для тестирования модулей управления памяти микропроцессоров архитектуры MIPS64.

Ключевые слова

микропроцессоры, системное тестирование, функциональное тестирование, построение тестов, тестовые шаблоны, нацеленная генерация тестов, подсистемы управления памятью.

Издание

Труды Института системного программирования РАН, том 18, 2010, стр. 67-80.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома