Сборники трудов ИСП РАН


Техника плоских схем для тестирования встроенных операционных систем

Никифоров В.В. (СПИИРАН, Санкт-Петербург, Россия)
Баранов С.Н. (СПИИРАН, Санкт-Петербург, Россия)

Аннотация

Современные автоматические устройства все чаще оснащаются микроконтроллерами. Логика работы автоматического оборудования поддерживается рядом различных встроенных программных приложений, которые выполняются под управлением встроенной операционной системы реального времени (ОС). Надежность ОС чрезвычайно важна для правильной работы всей автоматической системы. Поэтому встроенную ОС следует тщательно тестировать с помощью соответствующего набора автоматических тестов. Такой набор тестов для тестирования встроенной ОС обычно организуется как набор многозадачных тестовых приложений, которые должны выполняться под управлением данных. В статье представлены специальный язык для определения соответствующей логики задачи тестирования и концепция плоских съем для эффективного выполнения тестирования встроенной ОС. Чтобы избежать интенсивной интерпретации текстовых строк во время тестового прогона, предварительно образуется специальное представление теста, в котором исходная строковая форма преобразуется в форму регулярного массива и, таким образом, повышается эффективность тестирования.

Ключевые слова

встроенные приложения; операционные системы; тестирование программного обеспечения; системы реального времени

Издание

Труды Института системного программирования РАН, том 29, вып. 5, 2017, стр. 75-92.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

DOI: 10.15514/ISPRAS-2017-29(5)-5

Полный текст статьи в формате pdf (на английском) Вернуться к содержанию тома