Институт системного программирования им. В.П. Иванникова РАН


Комбинаторная генерация тестовых программ для микропроцессоров на основе моделей.

Авторы

А. Камкин.

Аннотация

В работе описывается подход к автоматической генерации тестовых программ, предназначенный для систематичного функционального тестирования микропроцессоров. Предлагаемый подход дополняет такие широко  распространенные на практике методы, как тестирование с помощью существующего программного обеспечения и тестирование с помощью случайных программ. Генерация тестовых программ осуществляется на основе модели микропроцессора, включающей в себя структурную модель микропроцессора и модель системы команд. Цель генерации задается с помощью критерия тестового покрытия, выделяющего набор тестовых ситуаций для каждой инструкции микропроцессора. Помимо описания методики генерации тестовых программ в статье также описывается устройство генератора, реализующего эту методику, и опыт его использования для тестирования микропроцессоров.

Полный текст статьи в формате pdf

Издание

Препринт 21, ИСП РАН, 2008.

Научная группа

Все публикации за 2008 год Все публикации