- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
Система генерации тестовых данных для системного функционального тестирования микропроцессоров ТЕСЛА.
Система генерации тестовых данных для системного функционального тестирования микропроцессоров ТЕСЛА.
Авторы
Е.В. Корныхин.
Издание
"Микроэлектроника и информатика-2009", стр.87.
Научная группа
Все публикации за 2009 год
Все публикации