Институт системного программирования им. В.П. Иванникова РАН


Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров.

Авторы

Е. В.Корныхин.

Аннотация

Диссертация посвящена методам построения тестовых программ для проведения системной верификации моделей микропроцессоров. Она развивает методику и технику повышения качества микропроцессоров и помогает в обнаружении проблем и дефектов на ранних стадиях разработки микропроцессоров. Системная верификация предполагает проверку микропроцессора в целом. Тестовые программы - это программы на языке ассемблера микропроцессора, при выполнении которых проявляются желаемые разработчиком тестовые ситуации. Для реальных микропроцессоров количество тестовых программ, требуемых для тщательной верификации, крайне велико, поэтому без методов автоматизации построения тестовых программ крайне затруднительно провести верификацию в адекватные сроки. Данная диссертация основывается на текущих работах в этой области и нацеливается на те тестовые ситуации, для которых еще не было предъявлено хороших методов автоматического построения тестовых программ. В диссертации речь идет о тестовых программах для подсистем управления памяти (виртуальная память, кэширование). Даются новые определения стратегий вытеснения, используемых в кэш-памяти, позволяющие понизить сложность существовавших методов построения тестовых программ и сделать возможным их применение для стратегий вытеснения, используемых на практике.

Полный текст статьи в формате pdf

Издание

Диссертация на соискание ученой степени к.ф.-м.н., Москва, 2010 г.

Научная группа

Технологии программирования

Все публикации за 2010 год Все публикации