Метод автоматизации имитационного тестирования микропроцессоров с конвейерной архитектурой на основе формальных спецификаций.

Авторы

А.С. Камкин.

Аннотация

Диссертация посвящена вопросам автоматизации имитационного тестирования микропроцессоров. Результатом работы является система методов и инструментов, предназначенных для модульного и системного тестирования. Подход к модульному тестированию базируется на спецификации пред- и постусловий микроопераций (стадий конвейера); разработанные средства позволяют с потактовой точностью описывать микропроцессорные модули, автоматически генерировать последовательности тестовых воздействий и проверять корректность поведения модулей в ответ на эти воздействия. Подход к системному тестированию использует спецификации системы команд, комбинаторный перебор шаблонов тестовых программ и генерацию тестовых данных на основе ограничений; разработанные средства позволяют автоматически конструировать программы на языке ассемблера, нацеленные на достижение тех или иных ситуаций в работе микропроцессора. Созданные в рамках диссертационной работы инструменты применялись в НИИСИ РАН для тестирования модулей и подсистем микропроцессора Комдив64-СМП (буфера трансляции адресов, модуля кэш-памяти второго уровня, подсистемы управления памятью), вычислительного ядра микропроцессора Комдив64 и арифметического сопроцессора Комдив128. В результате были обнаружены десятки ошибок, включая критические.

Полный текст статьи в формате pdf

Издание

Диссертация на соискание ученой степени к.ф.-м.н., Москва, 2009 г.

Научная группа

Технологии программирования

Все публикации за 2009 год

Все публикации