- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
Применение технологии UniTesK для функционального тестирования моделей аппаратного обеспечения.
Авторы
В.П.Иванников, А.С.Камкин, В.В.Кулямин, А.К.Петренко.
Аннотация
В работе обсуждаются вопросы применимости технологии автоматизированного тестирования UniTesK к разработке функциональных тестов для моделей аппаратного обеспечения. Предлагаются способы расширения базовой архитектуры тестовой системы UniTesK для функционального тестирования моделей на языках Verilog HDL и SystemC. Для каждого из указанных классов моделей описывается процесс разработки теста с помощью инструмента CTesK и приводятся оценки возможности автоматизации шагов этого процесса.
Полный текст статьи в формате pdfИздание
Препринт Института системного программирования РАН, №8, 2005.