Методика генерации тестов для устройств, работающих согласно стандарту IEEE 754.

Методика генерации тестов для устройств, работающих согласно стандарту IEEE 754.

Авторы

М.М. Чупилко.

Издание

Тезисы докладов научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ. - М.: МИЭМ, 2008. (стр. 85-86).

Научная группа

Технологии программирования

Все публикации за 2008 год Все публикации