Измерение тестового покрытия Си программ по критерию MC/DC.

Авторы

Е.А. Герлиц.

Аннотация

Критерий тестового покрытия MC/DC широко применяется для тестирования критических по безопасности систем, встраива- емых систем и прежде всего систем авионики. В данной работе мы рассматриваем ряд проблем, возникающих на практике при измерении тестового покрытия по MC/DC программ, написан- ных на языке Си, а также приводим возможные решения данных проблем. Выбранные решения влияют на качество тестирования. Данная статья содержит часть результатов нашей работы по исследованию методов тестирования инструментов для анализа тестового покрытия по критерию MC/DC для языков Си/C++.

Полный текст статьи в формате pdf (на английском)

Ключевые слова

MC/DC, критерий тестового покрытия, DO-178B, язык Си, системы авионики, тестирование

Издание

Университетский научный журнал. 2013. № 5, с. 203-210.

Научная группа

Технологии программирования

Все публикации за 2013 год

Все публикации