Сборники трудов ИСП РАН


Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения.

Я.С. Губенко, А.С. Камкин, М.М. Чупилко.

Аннотация

Работа представляет собой сравнительный анализ современных подходов к разработке функциональных тестов для моделей аппаратуры: AVM (Advanced Verification Methodology) от компании Mentor Graphics, OVM (Open Verification Methodology) — совместной разработки Mentor Graphics и Cadence Design Systems — и технологии UniTESK (Unified TEsting and Specification tool Kit), разработанной в Институте системного программирования РАН. В статье анализируются сильные и слабые стороны различных подходов, сопоставляются архитектуры тестовых систем, даются рекомендации по развитию технологии UniTESK и ее унификации с методологией OVM, набирающей все большее распространение и претендующей на то, чтобы стать стандартом в области тестирования моделей аппаратного обеспечения.

Издание

Труды Института системного программирования РАН, том 17, 2009, стр. 133-143.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома