Сборники трудов ИСП РАН


Генерация тестовых программ для микропроцессоров.

А.С. Камкин.

Аннотация

В работе описывается подход к автоматической генерации тестовых программ, предназначенный для систематичного функционального тестирования микропроцессоров. Предлагаемый подход дополняет такие широко распространенные на практике методы, как тестирование с помощью существующего программного обеспечения и тестирование с помощью случайных программ. Генерация тестовых программ осуществляется на основе модели микропроцессора, включающей в себя структурную модель микропроцессора и модель системы команд. Цель генерации задается с помощью критерия тестового покрытия, выделяющего набор тестовых ситуаций для каждой инструкции микропроцессора. Помимо описания методики генерации тестовых программ в статье также описывается устройство генератора, реализующего эту методику, и опыт его использования для тестирования микропроцессоров.

Издание

Труды Института системного программирования РАН, том 14, часть 2, 2008, стр. 23-64.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома