- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Центр исследований безопасности системного ПО
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Орган по сертификации
- Центр коллективного пользования ИСП РАН
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
- Проекты
- Инновации
- Публикации
- Интеллектуальная собственность
- Стоимость работ и услуг
- IT аккредитация
- Противодействие коррупции
- Курсы
- Семинары
- Мероприятия
- Партнёры
- Официальные документы
- СМИ об ИСП РАН
- Вакансии
- Контакты
Новости
Новости ИСП РАН
Выпущена новая версия MicroTESK (Microprocessor TEsting and Specification Kit) 2.3.
Выпущена новая версия MicroTESK (Microprocessor TEsting and Specification Kit) 2.3. Она включает в себя поддержку генерации тестов для функциональной верификации подсистемы управления памятью микропроцессора. Применяемый подход основан на формальных спецификациях инструкций доступа к памяти (записи и чтения) и модулей памяти, таких как кэш-память и буферы трансляции адресов. Использование формальных спецификаций помогает автоматизировать разработку генераторов тестовых программ и обеспечивает систематичность верификации, позволяя четко задавать цели тестирования. Генератор тестов создает тестовые программы, используя комбинаторные методы. То есть тестовые воздействия в виде последовательностей операций записи и чтения получаются путем перечисления всех допустимых комбинаций инструкций, тестовых ситуаций (путей выполнения инструкций) и зависимостей (наборов конфликтов между инструкциями). Важный момент состоит в том, что информация о тестовых ситуациях и зависимостях автоматически извлекается из спецификаций. Данный подход применим для промышленных проектов и позволяет выявить критические ошибки в механизмах управления памятью.
Более подробная информация доступна здесь.
