- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
- Об издании
- Редколлегия
- Рецензирование
- Политика издательства
- Для авторов
- Последние выпуски
- Текущий выпуск
- Выпуск в подготовке
- Контакты
Новости
Сравнение эффективности обходчиков UniTESK.
А.Р.Арутюнян.
Аннотация
В данной работе исследуется эффективность генерации тестов на основе автоматического построения обхода графа, т.е. маршрута, проходящего через все его дуги. Приводятся экспериментальные данные о работе на графах различных типов обходчиков UniTESK, использующих разные алгоритмы построения обхода — алгоритм поиска в глубину и жадный алгоритм. Жадный алгоритм в большинстве случаев строит более короткие маршруты, позволяя выполнять соответствующие тесты значительно быстрее.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 10, 2006, стр. 167-180.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
А.Р.Арутюнян. Сравнение эффективности обходчиков UniTESK.. Труды Института системного программирования РАН, том 10, 2006, стр. 167-180. .
Полный текст статьи в формате pdf
Вернуться к содержанию тома