Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования микропроцессоров с учетом кэширования и трансляции адресов.
Новости
07 Октября, 2023
Защита диссертаций
20 Сентября, 2023
Объявление о дополнительном приеме в аспирантуру ИСП РАН в 2023 году
08 Сентября, 2023
Напоминаем, что в Москве начались выборы Мэра
Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования микропроцессоров с учетом кэширования и трансляции адресов.
Аннотация
В статье рассматривается задача генерации тестовых данных при генерации тестовых программ для системного функционального тестирования микропроцессоров (core-level verification), по абстрактной форме тестовой программы (тестовому шаблону). Для решения этой задачи в работе предложен алгоритм, сводящий ее к задаче разрешения ограничений. При этом учитываются такие особенности микропроцессора, как кэширование и трансляция адресов.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 17, 2009, стр. 145-160.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
Полный текст статьи в формате pdf
