Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.
Новости
18 Апреля, 2025
ИСП РАН выступит партнёром научного форума «Шаг в будущее: глобальный форсайт, искусственный интеллект и стратегическое лидерство»
12 Марта, 2025
XII научно-практическая конференция «OS DAY. Изолированные среды исполнения в операционных системах»
01 Марта, 2025
Шнитману Виктору Зиновьевичу исполняется 80 лет
Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.
Аннотация
В статье описывается методика автоматической генерации наборов позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа. Предлагаются критерии покрытия для таких наборов, основанные на модельном подходе к тестированию, и методы генерации наборов тестов, удовлетворяющих предложенным критериям. Также приводятся результаты практического применения описанной методики к тестированию синтаксических анализаторов различных языков, в том числе языков C и Java.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 8, часть 1, 2004, стр. 41-58.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
Полный текст статьи в формате pdf
Вернуться к содержанию тома