- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Орган по сертификации
- Центр коллективного пользования ИСП РАН
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.
- Об издании
- Редколлегия
- Рецензирование
- Политика издательства
- Для авторов
- Последние выпуски
- Текущий выпуск
- Выпуск в подготоке
- Контакты
Новости
Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.
С.В. Зеленов, С.А. Зеленова.
Аннотация
В статье описывается методика автоматической генерации наборов позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа. Предлагаются критерии покрытия для таких наборов, основанные на модельном подходе к тестированию, и методы генерации наборов тестов, удовлетворяющих предложенным критериям. Также приводятся результаты практического применения описанной методики к тестированию синтаксических анализаторов различных языков, в том числе языков C и Java.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 8, часть 1, 2004, стр. 41-58.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
С.В. Зеленов, С.А. Зеленова. Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа. . Труды Института системного программирования РАН, том 8, часть 1, 2004, стр. 41-58. .
Полный текст статьи в формате pdf
Вернуться к содержанию тома