Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.
Новости
07 Декабря, 2024
Прощание с академиком Е.П. Велиховым
06 Декабря, 2024
Опрос Министерства науки и высшего образования Российской Федерации
24 Сентября, 2024
Приглашаем принять участие в Открытой конференции ИСП РАН
Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.
Аннотация
В статье описывается методика автоматической генерации наборов позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа. Предлагаются критерии покрытия для таких наборов, основанные на модельном подходе к тестированию, и методы генерации наборов тестов, удовлетворяющих предложенным критериям. Также приводятся результаты практического применения описанной методики к тестированию синтаксических анализаторов различных языков, в том числе языков C и Java.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 8, часть 1, 2004, стр. 41-58.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).