- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
- Об издании
- Редколлегия
- Рецензирование
- Политика издательства
- Для авторов
- Последние выпуски
- Текущий выпуск
- Контакты
Новости
07 Октября, 2023
Защита диссертаций
20 Сентября, 2023
Объявление о дополнительном приеме в аспирантуру ИСП РАН в 2023 году
08 Сентября, 2023
Напоминаем, что в Москве начались выборы Мэра
Паттерны проектирования тестовых сценариев.
В.С. Мутилин.
Аннотация
Рассматриваются вопросы использования типовых решений (паттернов проектирования) для построения тестовых программ, основанных на обобщенных моделях тестируемых систем в форме неявно заданных конечных автоматов. В качестве базовой технологии применяется технология UniTesK.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 9, 2006, стр. 97-128.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
В.С. Мутилин. Паттерны проектирования тестовых сценариев. . Труды Института системного программирования РАН, том 9, 2006, стр. 97-128. .
Полный текст статьи в формате pdf
