- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
Automated Generation of Positive and Negative Tests for Parsers.
Авторы
S.Zelenov, S.Zelenova.
Аннотация
In this paper we describe a specification-based approach to automated generation of both positive and negative test sets for parsers. We propose coverage criteria definitions for such test sets and algorithms for generation of the test sets with respect to proposed coverage criteria. We also present practical results of the technique application to testing syntax analyzers of several languages including C and Java.
Издание
Proc. of the 5th Int. Workshop on Formal Approaches to Testing of Software (FATES 2005), LNCS 3997, Springer-Verlag, Berlin, 2006, 187-202.
DOI: 10.1007/11759744_13