- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
Метод извлечения EFSM-моделей из HDL-описаний: применение к функциональной верификации.
Авторы
А.С. Камкин, С.А. Смолов.
Аннотация
Сложность цифровой микроэлектронной аппаратуры неуклонно возрастает, что существенно затрудняет ее верификацию — проверку корректности. Автоматизированные методы верификации аппаратуры основаны на использовании моделей, удобных для генерации тестов и формальной проверки свойств. В данной статье описывается новый подход к извлечению моделей в форме расширенных конечных автоматов из исходного кода HDL-описаний, а также обсуждаются возможности использования таких моделей в процессе верификации.
Ключевые слова
проектирование аппаратуры, функциональная верификация, статический анализ, генерация тестов, синтез автоматов, расширенные конечные автоматы, охраняемые действия.
Издание
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть II. С. 113-118.