Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.

News

02 August, 2019 OS DAY-2019. Cooperation among operating platform developers and the security of Russian software

10 April, 2019 Ivannikov Memorial Workshop has been supported by IEEE

14 March, 2019 The annual Ivannikov Memorial Workshop will take place on 13-14 September 2019

Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа.

С.В. Зеленов, С.А. Зеленова.

Abstract

В статье описывается методика автоматической генерации наборов позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа. Предлагаются критерии покрытия для таких наборов, основанные на модельном подходе к тестированию, и методы генерации наборов тестов, удовлетворяющих предложенным критериям. Также приводятся результаты практического применения описанной методики к тестированию синтаксических анализаторов различных языков, в том числе языков C и Java.

Edition

Proceedings of the Institute for System Programming, vol. 8, issue 1 (in Russian), 2004, Стр. 41-58.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

For citation

С.В. Зеленов, С.А. Зеленова. Автоматическая генерация позитивных и негативных тестов для тестирования фазы синтаксического анализа. . Proceedings of the Institute for System Programming, vol. 8, issue 1 (in Russian), 2004, Стр. 41-58. .

Full text of the paper in pdf (in Russian)

Back to the contents of the volume