Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения.

Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения.

Я.С. Губенко, А.С. Камкин, М.М. Чупилко.

Аннотация

Работа представляет собой сравнительный анализ современных подходов к разработке функциональных тестов для моделей аппаратуры: AVM (Advanced Verification Methodology) от компании Mentor Graphics, OVM (Open Verification Methodology) — совместной разработки Mentor Graphics и Cadence Design Systems — и технологии UniTESK (Unified TEsting and Specification tool Kit), разработанной в Институте системного программирования РАН. В статье анализируются сильные и слабые стороны различных подходов, сопоставляются архитектуры тестовых систем, даются рекомендации по развитию технологии UniTESK и ее унификации с методологией OVM, набирающей все большее распространение и претендующей на то, чтобы стать стандартом в области тестирования моделей аппаратного обеспечения.

Издание

Труды Института системного программирования РАН, том 17, 2009, стр. 133-143.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

Для цитирования

Я.С. Губенко, А.С. Камкин, М.М. Чупилко. Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения.. Труды Института системного программирования РАН, том 17, 2009, стр. 133-143. .

Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома