Proceedings of ISP RAS


Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения.

Я.С. Губенко, А.С. Камкин, М.М. Чупилко.

Abstract

Работа представляет собой сравнительный анализ современных подходов к разработке функциональных тестов для моделей аппаратуры: AVM (Advanced Verification Methodology) от компании Mentor Graphics, OVM (Open Verification Methodology) — совместной разработки Mentor Graphics и Cadence Design Systems — и технологии UniTESK (Unified TEsting and Specification tool Kit), разработанной в Институте системного программирования РАН. В статье анализируются сильные и слабые стороны различных подходов, сопоставляются архитектуры тестовых систем, даются рекомендации по развитию технологии UniTESK и ее унификации с методологией OVM, набирающей все большее распространение и претендующей на то, чтобы стать стандартом в области тестирования моделей аппаратного обеспечения.

Edition

Proceedings of the Institute for System Programming, vol. 17 (in Russian), 2009, Стр. 133-143.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

For citation

Я.С. Губенко, А.С. Камкин, М.М. Чупилко. Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения.. Proceedings of the Institute for System Programming, vol. 17 (in Russian), 2009, Стр. 133-143. .

Full text of the paper in pdf (in Russian) Back to the contents of the volume