- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
- Об издании
- Редколлегия
- Рецензирование
- Политика издательства
- Для авторов
- Последние выпуски
- Текущий выпуск
- Контакты
Новости
Применение UniTesK к тестированию встроенных систем.
Н.В. Пакулин.
Аннотация
В статье обсуждаются вопросы применимости технологии тестирования UniTesK к функциональному тестированию программного обеспечения встроенных систем на примере сенсорных сетей под управлением TinyOS. В работе выделены сходство и отличие указанного класса ПО от систем, для которых хорошо разработаны методики применения UniTesK. Представлены результаты опытного проекта по исследованию применимости CTesK к тестированию ПО под управлением TinyOS.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 8, часть 1, 2004, стр. 117-136.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
Н.В. Пакулин. Применение UniTesK к тестированию встроенных систем. . Труды Института системного программирования РАН, том 8, часть 1, 2004, стр. 117-136. .
Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома