Генерация тестовых программ для подсистемы управления памятью микропроцессора.

Генерация тестовых программ для подсистемы управления памятью микропроцессора.

Д.Н. Воробьев, А.С. Камкин.

Abstract

В работе рассматривается методика генерации тестовых программ, предназначенных для функционального тестирования подсистемы управления памятью микропроцессора. Предлагаемый подход основан на формальной спецификации инструкций, работающих с памятью, и устройств подсистемы, включая буфер трансляции адресов и кэш-память. Использование формальных описаний позволяет автоматизировать разработку генератора тестовых программ, и, что не менее важно, систематизировать тестирование за счет четкого определения целей тестирования. Для генерации тестовых программ в предлагаемом подходе используются комбинаторные техники — тестовые воздействия на микропроцессор представляются в виде цепочек инструкций небольшой длины, составленных из различных сочетаний тестовых ситуаций.

Edition

Proceedings of the Institute for System Programming, vol. 17 (in Russian), 2009, Стр. 119-132.

ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).

For citation

Д.Н. Воробьев, А.С. Камкин. Генерация тестовых программ для подсистемы управления памятью микропроцессора. . Proceedings of the Institute for System Programming, vol. 17 (in Russian), 2009, Стр. 119-132. .

Full text of the paper in pdf (in Russian) Back to the contents of the volume